В то же время Intel призывает автопроизводителей отказаться от устаревших микросхем https://atomstroy-ng.ru/vannyultrazvukobrabotki
Исполнительный директор компании Пэт Гелсинджер сказал, что если автопроизводители перейдут на более современный дизайн чипов, то Intel полностью удовлетворит спрос https://atomstroy-ng.ru/avtomatichultrazvuklinii
Параметры поставляемого оборудования могут быть отличны от указанных в таблице, точные характеристики указываются в спецификации при формировании коммерческого предложения https://atomstroy-ng.ru/ruchnayagalvanichliniya
Технологическое оборудование для сборки микросхем и полупроводниковых компонентов https://atomstroy-ng.ru/
Оборудование для создания электрических соединений между контактными площадками кристаллов и подложки https://atomstroy-ng.ru/ustanovkatravleniya
Ручная зондовая станция, отличающаяся надёжностью и удобством https://atomstroy-ng.ru/ustanovkaadonirovanie
Предназначена для тестирования электрических параметров широкого перечня микроэлектронных устройств https://atomstroy-ng.ru/ustanovkaadonirovanie
Параметр Значение Диаметр пластин 3”, 4”, 5”, 6”, 8” Диапазон перемещения рабочей платформы X-Y 240 x 260 мм Механизм перемещения рабочей платформы маховик Диапазон перемещения по Z 10 мм Угол поворота ? ±45° Увеличение 12 https://atomstroy-ng.ru/ustanovkatravleniya
5х~3000x Подсветка Оптоволоконный осветитель Загрузка пластины Ручная […]
Метрология тонких пленок (эллипсометрия и рефлектомерты) Измерение толщины и поверхностного сопротивления пленок SURAGUS 3D оптические профилометры SENSOFAR Системы измерения геометрии пластин и стресса Оптические микроскопы Оптические микроскопы Chongqing Optec Instrument (Китай) Сканирующие (растровые) электронные микроскопы JEOL Сканирующие (растровые) электронные микроскопы Emcrafts (Корея) Пробоподготовка для SEM и TEM микроскопии Зондовые станции от MS TECH Зондовые станции от SEMISHARE https://atomstroy-ng.ru/
|